本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首...本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首次引入了非荧光分析的物质(筒称NFAM)的新概念;并计算了理论α系数,使理论α系数在粉末压片法x射线荧光分析中获得了应用。本方法测定的对象可以是岩石,土壤和水系沉积物等地质样品。展开更多
文摘本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首次引入了非荧光分析的物质(筒称NFAM)的新概念;并计算了理论α系数,使理论α系数在粉末压片法x射线荧光分析中获得了应用。本方法测定的对象可以是岩石,土壤和水系沉积物等地质样品。
