地质样品中铅、锡、银元素两米光栅摄谱仪测定方法分析

伴随科学技术的不断提升,分析测试技术也获得了极大的发展,目前ICP质谱法以及ICP全谱法和x荧光光谱法在地质样品分析测试中得到了广泛的应用,并发挥着巨大的作用。然而在分析地质样品铅、锡、银元素时,因原属性值以及不易对样品进行分解,再加上试剂空白等因素,在分析测试的精准度上以及检出限上还存在很大的不足。为了更好的进行地质样品铅、锡、银元素的分析测定,通常选择深孔电极一米光栅摄谱仪来完成相关的测试工作。使用该方法不仅操作非常简单,而且测试精准度高,具有很好的重现性,而且成本投入较少,有效的预防和降低了环境的污染。因此其应用非常普遍。在此基础上,笔者几何很多实验,采用两米光栅摄谱仪对地质样品中的铅、锡、银元素进行测试,并对该方法进行了有效改进,大大提升了此项技术的测试效果与工作效率,实现了多样化的地质样品元素的测定。