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基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究
被引量:
1
1
作者
祝卿
陈继刚
+3 位作者
付裕
余华昌
潘莹
包晓峰
《计测技术》
2018年第A01期7-11,共5页
两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点。本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结...
两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点。本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结果的不确定度分量进行分析。
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关键词
两维平面扫描系统
激光跟踪仪(API)
大尺寸测量
测量不确定度
下载PDF
职称材料
题名
基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究
被引量:
1
1
作者
祝卿
陈继刚
付裕
余华昌
潘莹
包晓峰
机构
上海精密计量测试研究所
出处
《计测技术》
2018年第A01期7-11,共5页
文摘
两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点。本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结果的不确定度分量进行分析。
关键词
两维平面扫描系统
激光跟踪仪(API)
大尺寸测量
测量不确定度
分类号
TB9 [机械工程—测试计量技术及仪器]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究
祝卿
陈继刚
付裕
余华昌
潘莹
包晓峰
《计测技术》
2018
1
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职称材料
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