中孔L型沸石骨架Si/Al的红外光谱测定

采用红外光谱研究了(NH_4)_2SiF_6处理的KL沸石样品的骨架Si/Al与吸收带频率的关系。在～770cm^(-1)附近吸收带的频率与沸石骨架中Al的摩尔分数X_(Al)(即Al/(Si+Al))间存线形关系:X_(Al)=-7.309×10^(-3)(u_(770-760)+0.3242。这一结果与化学分析结果一致。