一种有效的系统芯片串扰故障激励检测模型

目前的系统芯片(SOC)制造技术已经进入了深亚微米时代,由于系统芯片内部信号传输线发生串扰而导致系统功能失效的串扰故障问题不容忽视。文中在对系统芯片中信号传输线的串扰产生性质进行深入研究的基础上,提出一种简单有效的系统芯片串扰故障激励检测模型——基于搜索的MAF模型。对使用这种串扰故障激励模型的效率和已有的MAF模型进行了对比。结果显示在串扰较弱时,其所需的检测矢量数和已有的MAF模型相当;而在串扰较严重时,这种新的串扰故障激励检测模型只需较少的激励检测矢量即可以完成对所有串扰故障的激励检测。

基于SOC中处理器核的串扰故障激励检测

有效地给出了一种新的基于软件自测试的串扰故障渐进式激励检测模型实现 ,这种基于软件自测试的检测方案是利用SOC中的处理器核的计算和处理能力来产生激励矢量 ,对串扰故障进行激励并对测试响应进行分析 .为了提高测试速度 ,还提出了一种对IP核透明化处理的测试结构 ,该测试结构在增加较少额外硬件开销的前提下 ,极大地减少了测试时间 .同时 ,这种改进的测试结构也满足串扰故障激励检测的实时、并行的要求 .

系统芯片IP核间互联总线串扰故障检测模型的BIST实现

文章针对系统芯片IP核间互联总线串扰故障的激励检测问题,在已经提出一种有效的串扰故障渐进式激励检测模型的基础上,给出了一种该渐进式模型的内建自测试(BIST)实现,对其中的测试矢量产生单元、测试响应分析单元以及测试控制单元进行了详细的分析。同时还给出了该BIST结构实现的参数化HDL描述,文章的最后给出了使用综合工具Synopsys对该BIST结构的综合结果。