电场对负性向列相液晶薄盒影响的研究

基于Landau-de Gennes理论,利用松弛迭代法,研究了电场对垂直排列(VA)液晶薄盒和反扭曲向列相(ITN)液晶薄盒的影响。两系统在相同条件下的倾角变化相同,且系统双轴性与本征值的变化只取决于倾角的变化。研究表明,当盒厚大于一定临界值时,液晶系统一直处于正序参数态,此时ITN薄盒的扭曲角由线性排列逐渐变化到呈45°角排列;当小于此临界盒厚时,在一定电压下会出现负序参数单轴态,此时ITN薄盒的扭曲角会偏离线性变化出现回滞。