临界路径跟踪算法中自屏蔽和多路敏化现象的研究

目前临界路径跟踪算法中确定扇出源临界性时,未同时考虑扇出源的自屏蔽和多路敏化现象,进而导致处理结果出现近似问题,对此研究了自屏蔽和多路敏化现象对扇出源临界性的影响,提高了算法的准确性.通过使用18值符号仿真,可以同时检测固定故障和跳变时延故障,提高了算法的有效性.使用C++编程语言对改进后的临界路径跟踪算法进行实现,并应用于ISCAS’85标准电路进行故障模拟,实验结果证明了该算法的准确性和高效性.

故障精减的临界路径跟踪故障模拟

本文对M.Abramovici等中提出的临界路径跟踪法作了改进,主要是探讨了临界路径跟踪故障模拟的故障精减问题,提出了若干解决办法。所提出的这些办法主要是:在对当前测试码进行故障模拟时,充分利用以前故障模拟中全局的及局部的信息,从各个方面来节省本次故障模拟的时间。实验结果表明,它们都是行之有效的,且极大地减少了运算量,从而进一步提高了临界路径跟踪法的效率。

快速的平行码临界路径跟踪故障模拟

针对平行码临界路径跟踪故障模拟中最费时间的扇出源故障模拟,提出了若干加速技术。通过对电路结构进行的独立扇出分支、扇出源分类及扇出源的最终汇聚门等静态分析,结合对停止线及停止扇出源、测试码标记向量以及扇出源临界性确定前的预处理等动态计算,使得扇出源故障模拟区域及需要故障模拟的扇出源数目大大减少,极大地缩短了整个故障模拟时间。实验结果表明,平行码临界路径跟踪故障模拟算法,对少量和大批的随机码都非常有效,并且随着电路规模增加,其有效性更加明显。

多故障信息标志的临界路径跟踪

提出了一种故障模拟方法——多故障信息标志的临界路径跟踪。虽然其基本概念类似于临界路径跟踪（CPT）和故障信息跟踪（FIT）,但是这种方法能大大减少扇出源的分析数量,故障在FFR中的传播比CPT中更加有效。本算法已用C语言在386微机上实现,并给出了ISCAS’85的十个组合电路的实验结果。

集成电路测试方法与技术

●●●●集成电路测试方法与技术该成果具体内容有：１．大型复杂数字电路的测试产生系统，能处理５０００门左右的数字电路，故障覆盖率达９０％以上。２．临界路径跟踪测试产生和平行码临界路径跟踪故障模拟的实验系统，其故障覆盖率达９８％。３．对时延故障提出了Ｐ前...