二代芯片散热模组热设计的研究

随着芯片技术的发展,近年来二代芯片已逐渐获得推广和应用,芯片的功能越来越强大,单位时间所产生的热量也越来越多,芯片功耗也越来越高,能否将它们工作时产生的热量及时并有效的散发出去,将直接影响芯片的工作性能、成本及可靠性,这就给芯片散热管理提出了更高的要求。本文将对该高功耗型芯片散热模组的相关热设计问题作一些分析,研究的是以一种高效传热器件VC(Vapor Chamber,也称均温板)为散热模组的底板,匹配不同的散热鳍片,建立散热模组模型,通过仿真模拟,分析计算在不同材质鳍片和不同风速条件下的传热性能,研究得出满足高功耗二代芯片的散热模组产品方案,并对产品公差、平面度等结构要点作必要的经验说明,为这一类产品的热设计和产品开发提供一些参考。

芯片捕获二代测序技术在新生儿疾病筛查中的应用

目的探讨芯片捕获二代测序技术在新生儿疾病筛查中的临床应用价值。方法收集新生儿遗传代谢病筛查干血滤纸片样本,采用芯片捕获二代测序技术对169种常见疾病致病基因的已报道致病位点进行检测,检出位点采用Sanger测序验证。结果150例样本中有4例为可疑阳性患者(阳性率为2.67%),88例为致病基因携带者(携带率为58.67%),58例未检测到致病基因变异。其中,携带1个致病基因变异的样本高达40.7%,最多可见携带4个不同的致病基因变异。携带频率最高的致病基因为GJB2和SLC26A4,其次为PAH、SLC22A5、DUOX2、SLC12A3、USH2A及ACADS。结论基于芯片捕获二代测序技术的新生儿疾病筛查扩大了筛查病种,与传统生化筛查结果进行结合和分析,可有效降低筛查假阳性率,提高阳性预测值,具有重要的临床价值。

SNP微阵列和基因捕获测序联合在智力障碍或精神发育迟缓儿童中的应用价值

目的研究单核苷酸多态性(Single Nucleotide Polymorphism,SNP)微阵列和新一代基因捕获测序技术的联合应用对智力障碍或精神发育迟缓儿童的诊断价值。方法通过资料分析法选取2018年9月至2020年3月在南京医科大学附属儿童医院康复门诊接受治疗的智力障碍或精神发育迟缓儿童19名,年龄在6个月至14岁,男童11人和女童8人。分别采用发育诊断量表和韦氏儿童智力量表中国修订本(WISC-RC)对其进行智力评定,发育商低于49分或智商低于51分者纳入本次研究,进行全基因组拷贝数变异(Copy Number Variation,CNV)及致病基因变异分析,对检测的CNV采用定量PCR法进行先证者及父母验证,对明确或疑似致病性基因变异采用双脱氧法测序进行验证和家庭基因谱核查。结果研究表明19名入选者中有16名患儿的SNP微阵列分析结果为阴性,其中6例确认患有单一遗传疾病、7例阴性、3例存在可疑的基因病变(表现在11q24.1q25、21q22.2q22.3、12q22.1q23区域,其是诱发智力障碍和精神发育迟缓的主要病因)。结论SNP微阵列和新一代基因捕获测序技术的联合应用可显著提高不明原因的智力障碍或精神发育迟缓儿童的分子遗传病因诊断概率,通过寻根朔源方式也可为后续诊治方向提供可靠依据,具有重要的临床意义。