浅谈强反光物体上疑难指印的二次漫射光反射摄影法

本文介绍采用二次漫射光反射拍摄强反光物体上疑难指印的原理、所用器材及方法。

论“二次漫射法”及其具体应用

采用“二次漫射法”拍照来加强平面强反光物体上反差微弱的疑难指纹与承受载体之间的亮度差,显露指纹,简便易行,效果良好。应用“二次漫射法”拍照要求选用适宜的照相器材,掌握正确的操作方法和原理,方可获得良好的拍摄效果,改善指纹痕迹的检验条件。

浅谈应用二漫法拍摄强反光物体上的疑难指纹

在刑事案件的现场拍照和物证检验照相中,经常会遇到一些遗留在平面强反光物体上的反差微弱的疑难指纹,拍摄难度很大。采用二漫法来加强这类指纹痕迹与承受载体之间的亮度差,显露指纹,简便易行,效果良好。应用二漫法拍照要求选用适宜的照相器材,掌握正确的操作方法,方可获得良好的拍摄效果,改善指纹痕迹的检验条件。