CAPP系统中工序尺寸的计算——二次跟踪法

利用二次跟踪法进行轴向工序尺寸的计算,成功地解决了尺寸链组成环的查找、公差的校核和组成环增减性的判断等三大难题,并给出了计算机编程算法,为CAPP系统中工序尺寸计算和工序图的生成提供了技术基础。