电磁点源辐射线法用于复杂二维干涉仪测向研究

战斗机综合电子战系统采用二维干涉仪实现方位和俯仰同时测向,用于实现高精度无源定位或引导火控雷达等快速截获目标等。方位干涉仪天线通常安装在机翼前缘等位置,由于受重力或在飞行中颤动等影响,天线出现下倾而不在飞机机体水平面内,现有基于电磁辐射源远场近似平行投射原理进行测向建模过程方法非常复杂且困难。针对非正交二维干涉仪测向难题,提出了一种简洁高效的测向模型,将投射电磁波假设为空间中的辐射点源,由辐射点源到二维干涉仪天线距离差与相位差的关系,再利用辐射点源对应的空间方向线上超过一定距离时的任意点到干涉仪天线相位差近似相等的前提,得到辐射点源空间三维位置的三个方程,求解得到空间三维位置进一步得到电磁波方位俯仰的二维测向公式。对算法模型及其误差进行理论、仿真分析和实际工程验证,结果证明了该方法的有效性。

空间角度耦合条件下二维干涉仪测向算法

对于二维干涉仪系统,信号空间入射情况下,因存在角度耦合,若直接将基线相位代入一般论文提及的简化干涉仪测向公式进行角度反解,其输出结果与对应维度的真实角度之间存在一个与入射角相关的理论偏差。首先通过建立空间信号入射模型,给出由基线相位和天线位置参量直接描述的二维干涉仪测向公式。然后针对一个典型L型正交阵,导出其使用一维干涉仪公式进行测向时的输出及误差特性。最后通过数值仿真,对测向公式及误差特性进行了全面验证。仿真结果表明,采用简化干涉仪公式进行角度反解,其输出值偏差随着信号入射角增加而增加,大角度条件下,会对次级系统的使用带来不利影响,需使用本文给出的公式进行角度反解。

利用基线长度和俯仰角修正改进的二维干涉仪测向算法

随着功率管理等雷达抗干扰技术的发展,提升机载电子战系统在低噪比条件下测向性能的重要性日益突出,成为提高电子战装备实战能力的重要因素。分析了L阵宽带二维干涉仪采用立体基线法的测向误差,提出了一种利用基线长度和俯仰角修正改进的宽带二维干涉仪测向算法。理论分析和仿真结果表明,改进算法在同等条件下测向性能优于立体基线法。

二维干涉仪测向技术研究

首先介绍了相位干涉仪的算法原理，接着对二维干涉仪测向的数学方程进行推导。随后研究了影响二维干涉仪测向算法精度的限制性因素，包括入射角度、短基线和长基线的长度、虚拟基线、信噪比、阵列位置等。着重对解模糊正确概率和均方根误差进行了仿真。在分析各种限制性因素的基础上，文中提供了一个二维干涉仪测向技术的设计实例。针对设计实例的Matlab仿真结果验证了设计的有效性，其测向均方根误差优于0．9°。

二维相位干涉仪在相干干扰下的测向误差模型

为了定量评估相干干扰对二维相位干涉仪测向误差的影响,在对二维相位干涉仪测向原理以及相干干扰源形成机理进行分析的基础上,给出两基线三元天线阵各阵元接收信源与干扰源和信号的表达式,然后根据此表达式推导各阵元接收和信号的相位差,并建立二维相位干涉仪在相干干扰下测向误差的数学模型,最后对此模型进行仿真实验。研究结果表明:二维相位干涉仪测向系统的测向误差与干扰源信号和信源信号的来波方向、相位差以及两信号的幅度之比有关,且该模型的测向误差变化趋势与矢量合成原理相符,具有有效性。另外,二维相位干涉仪的测向误差会随着两信号俯仰角的同时增大而减小,而两信号方位角的同时变化对测向误差几乎无影响。

二维相位干涉仪原理及其在短波战术测向机中的应用

本文在二维单基线、多基线相位干涉仪原理的基础上，介绍了基线相位模糊概念，提出了解相位模糊的基本思路和方法．针对短波战术干涉仪测向机，给出了五元测向天线布阵，并分析了其解相位模糊的性能。

干扰紫外光技术的蚀刻新法

英国Southampton大学光电研究中心与苏格兰的Alcatel Optronics公司合作完成新芯片加工技术，技术的最大突破是使用相同刻蚀点，相同的光学设备及设定同时定义出频道光波导与布拉格光栅，使芯片定义一步完成。

相位调制阵列结构微型光谱仪的设计与仿真实验研究

介绍了一种相位调制阵列结构微型光谱仪。光谱仪的核心部件为构建在CCD或CMOS上的微型干涉仪二维阵列,阵列中的各个微型干涉仪由不同高度的PMMA台阶组成。待测光入射后,会在各个微型干涉仪下方形成不同的干涉光强分布。通过CCD或CMOS的像素元测量每个微型干涉仪下方的干涉光功率,所得数据可组成一个线性方程组,由Tikhonov正则化方法解此方程组可复原光谱。仿真实验结果显示,光谱仪的光谱测量波长范围至少覆盖从300nm到1 100nm的波段,光谱测量的波长分辨率达到皮米量级。与传统光谱仪相比,该光谱仪具有体积小、成本低、分辨率高、光谱测量范围宽、测量时振动因素影响较小和可实时测量等优点。可以预计它将在航天遥感遥测、地质矿藏勘探、环境监测和生物细胞检测等领域有着广阔的应用前景。