二维荧光光谱提取强干扰下的弱信号的模拟研究

当用荧光光谱分析含A和B两成分样品时,如A的含量远高于B且A和B的荧光发射峰高度重叠,由于A的干扰和噪声的影响,B的信号难以被检出。通过数学分析和计算机模拟,发现通过合理选择实验条件,B的信号有可能在以改变激发波长为外扰的二维异步荧光谱上以交叉峰的形式被观测到。