微分进化算法在头部电阻抗成像中的应用

电阻抗成像(EIT)技术是一种功能成像技术,它向未知目标注入(安全)电流,通过测得目标边界的电位来估计它内部的阻抗分布情况。电阻抗成像是一个严重病态的非线性逆问题。本研究应用微分进化算法进行电阻抗成像,并将其用于二维真实头模型的阻抗重建中。仿真结果显示,作为一种简单、鲁棒的算法,微分进化算法在EIT成像中具有优越的性能。