期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
退火温度对铝互连线热应力的影响 被引量:2
1
作者 吴月花 李志国 +3 位作者 刘志民 吉元 胡修振 廖京宁 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期403-406,共4页
采用二维面探测器X射线衍射(XRD)测量1μm和0.5μm厚Al互连线退火前后的残余应力.沉积态Al线均为拉应力,且随膜厚的增加而减小.沿长度方向的应力明显高于宽度方向的应力,表面法线方向应力最小.250℃退火2.5h后,互连线在各方向上的应力... 采用二维面探测器X射线衍射(XRD)测量1μm和0.5μm厚Al互连线退火前后的残余应力.沉积态Al线均为拉应力,且随膜厚的增加而减小.沿长度方向的应力明显高于宽度方向的应力,表面法线方向应力最小.250℃退火2.5h后,互连线在各方向上的应力都减弱,其中1μm Al线应力减弱幅度高于0.5μm互连线.采用电子背散射衍射(EBSD)方法,测量退火前后Al互连线(111),(100),(110)取向晶粒的IQ值.退火后平均IQ值提高,互连线残余内应力随之减小.EBSD分析结果与XRD应力测试结果相符合. 展开更多
关键词 二维面探测器xrd EBSD 残余应力 IQ值 退火温度
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部