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退火温度对铝互连线热应力的影响
被引量:
2
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作者
吴月花
李志国
+3 位作者
刘志民
吉元
胡修振
廖京宁
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z1期403-406,共4页
采用二维面探测器X射线衍射(XRD)测量1μm和0.5μm厚Al互连线退火前后的残余应力.沉积态Al线均为拉应力,且随膜厚的增加而减小.沿长度方向的应力明显高于宽度方向的应力,表面法线方向应力最小.250℃退火2.5h后,互连线在各方向上的应力...
采用二维面探测器X射线衍射(XRD)测量1μm和0.5μm厚Al互连线退火前后的残余应力.沉积态Al线均为拉应力,且随膜厚的增加而减小.沿长度方向的应力明显高于宽度方向的应力,表面法线方向应力最小.250℃退火2.5h后,互连线在各方向上的应力都减弱,其中1μm Al线应力减弱幅度高于0.5μm互连线.采用电子背散射衍射(EBSD)方法,测量退火前后Al互连线(111),(100),(110)取向晶粒的IQ值.退火后平均IQ值提高,互连线残余内应力随之减小.EBSD分析结果与XRD应力测试结果相符合.
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关键词
二维面探测器xrd
EBSD
残余应力
IQ值
退火温度
下载PDF
职称材料
题名
退火温度对铝互连线热应力的影响
被引量:
2
1
作者
吴月花
李志国
刘志民
吉元
胡修振
廖京宁
机构
北京工业大学电控学院
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z1期403-406,共4页
基金
国防科技重点实验室资助项目
文摘
采用二维面探测器X射线衍射(XRD)测量1μm和0.5μm厚Al互连线退火前后的残余应力.沉积态Al线均为拉应力,且随膜厚的增加而减小.沿长度方向的应力明显高于宽度方向的应力,表面法线方向应力最小.250℃退火2.5h后,互连线在各方向上的应力都减弱,其中1μm Al线应力减弱幅度高于0.5μm互连线.采用电子背散射衍射(EBSD)方法,测量退火前后Al互连线(111),(100),(110)取向晶粒的IQ值.退火后平均IQ值提高,互连线残余内应力随之减小.EBSD分析结果与XRD应力测试结果相符合.
关键词
二维面探测器xrd
EBSD
残余应力
IQ值
退火温度
分类号
TN385 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
退火温度对铝互连线热应力的影响
吴月花
李志国
刘志民
吉元
胡修振
廖京宁
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
2
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职称材料
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