二钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱的变异现象及其机理

记录了常温下二钼酸铵晶体饱和水溶液的Raman光谱,并分别与二钼酸铵晶体、仲钼酸铵晶体、仲钼酸铵晶体饱和水溶液、水溶液状态下单钼酸根离子的Raman光谱进行了比较研究。结果表明:二钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱相对二钼酸铵晶体Raman光谱,明显地发生了变异现象。二钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱其主要特征峰最高振动频率937.6cm-1与仲钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱主要特征峰最高振动频率937.6cm-1完全吻合,而其次高振动频率893.9cm-1,恰好介于水溶液中单钼酸根离子Raman光谱主要特征峰最高振动频率895.1cm-1与仲钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱主要特征次高峰振动频率891.0cm-1之间,而且三者彼此接近。二钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱主、次特征峰强度之比值为2.1,与仲钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱主、次特征峰强度之比值4.4相比,一半不足。提出了一种利用Raman光谱主要特征峰振动频率及其主、次特征峰强度之比值对二钼酸铵晶体饱和水溶液组分同时进行定性和半定量分析的新方法。发现了常温下二钼酸铵晶体饱和水溶液中二钼酸根离子Mo2O72-已经不复存在,完全转变成了优势组分仲钼酸根离子Mo7O246-和次要组分单钼酸根离子MoO42-;证明了常温下含钼水溶液酸化过程中溶液Raman光谱离散性变化现象的存在。运用结构化学和物理化学原理同时讨论了二钼酸铵晶体饱和水溶液Raman光谱发生变异现象的机理。

二钼酸铵(ADM)非团聚晶体的生成试验

探讨了二钼酸铵非团聚晶体生成的机理及制取新工艺。采取该工艺制取的ADM费氏粒度(Fsss)约 3 0 μm ,激光粒度分布d0 .5为 3 70 μm ,松装比达到 1.3 7g/cm3。