平面汞膜电极二阶倒导数电位溶出分析法研究

对电位溶出的E-t曲线进行二阶倒导数处理,提高了二阶倒导数电位溶出分析法理论,其信号较一阶倒导数法增强约43.1n倍,分辨率由原来的 65.5mV/n改善到 48.2mV/n.用根据二阶倒导数法原理自行设计研制的多阶倒导数电泣溶出仪验证了本文提出的理论,富集120s,Cd～(2+)的检测限可达1.0×10～(-10)mol/L.