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V_2O_5熔体的微量氧化还原研究
被引量:
6
1
作者
魏劲松
赵康
谷臣清
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期697-702,共6页
将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶,在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样.通过对V2O5凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱(ESCA)和X射线衍射分析发现...
将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶,在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样.通过对V2O5凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱(ESCA)和X射线衍射分析发现V2O5凝胶薄膜中有四价钒的存在,本文从V2O5熔体的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化的机理.
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关键词
溶胶-凝胶
相变薄膜
V2O5
五氧化二钒熔体
微量
氧化
还原
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职称材料
题名
V_2O_5熔体的微量氧化还原研究
被引量:
6
1
作者
魏劲松
赵康
谷臣清
机构
西安理工大学材料科学与工程学院
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期697-702,共6页
基金
陕西省教委专项基金(99JK228)
陕西省自然科学基金
文摘
将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶,在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样.通过对V2O5凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱(ESCA)和X射线衍射分析发现V2O5凝胶薄膜中有四价钒的存在,本文从V2O5熔体的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化的机理.
关键词
溶胶-凝胶
相变薄膜
V2O5
五氧化二钒熔体
微量
氧化
还原
Keywords
sol-gel
thin films
V2O5
分类号
TB43 [一般工业技术]
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
V_2O_5熔体的微量氧化还原研究
魏劲松
赵康
谷臣清
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
6
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