阵列感应测井响应的井洞影响分析

井洞影响是井径变化致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因。在建立井洞影响计算模型的基础上,数值计算分析了井洞径向深度、纵向宽度、井眼泥浆电导率和地层电导率变化对阵列感应测井各子阵列的影响特征。结果表明,井洞影响在子阵列1和2的曲线上显示为假层存在;其他子阵列会出现凸或凹尖峰异常,在高电阻率地层出现负值;数据合成处理异常,深探测深度曲线分辨率高于浅探测深度;低泥浆电导率与地层电导率差别大,井洞影响严重;当地层电导率较低时,井洞的负影响会使响应出现负值异常,致使后续处理出错;随着井眼半径的增大,短子阵列表现为假层,较长子阵列的异常明显。通过几何因子解释了井洞影响导致曲线异常的原因。实际测井曲线的井洞影响实例验证了井洞影响数值模拟结果的有效性。

基于几何因子的阵列感应测井井洞影响校正方法

井洞影响是井径变化地层致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因。在建立井洞影响计算模型基础上,利用Gianzero几何因子计算阵列感应测井井洞响应并对井洞影响进行校正。结果表明:这种方法能够有效的减小井洞影响,使得出现井洞的异常测井曲线趋于正常。应用高数中拐点与极点的知识,确定了可处理井洞的位置以及数值模拟所需的地层模型参数。地层模型井洞影响校正实例验证了井洞影响校正数值模拟结果的有效性。

俄罗斯感应测井仪HIL的响应特性分析

文章针对俄罗斯感应仪器HIL,计算均匀地层中的电压和视电导率,给出了该仪器4个子阵列的电压动态范围要求和地层电导率测量范围。分别计算了对应Doll几何因子和带趋肤效应几何因子的子阵列的一维和二维响应,指出4个子阵列的原始探测深度深,分辨率低,需要围岩效应校正;随地层电导率增大,径向探测深度减小,分辨率增大;子阵列的二维响应存在负值,会产生井洞影响。