原位X射线荧光测井井液的影响与校正

本文研究原位X射线荧光测井探测中探测装置与井壁间井液厚度变化对测量结果的影响,通过对测量谱线特征参数的获取提出了一种新的井液校正方法。实验结果表明,这是一种对高含量样品有效、快速、实用的校正方法,校正后目标元素特征X射线峰峰面积与实测没有井液干扰时的峰面积的偏差小于5%。

X射线荧光测井井液的影响与校正

X射线荧光测井中 ,井液位于井下探管与井壁之间 ,它的影响不但表现在对特征X射线的吸收 ,而且表现在对源初级射线和特征 X射线的散射。井液的校正采用硬件与软件相结合的方法 ,在硬件上 ,使含有探测器的部分制成单独的短臂 ,有效地保证了探测窗与井壁的良好接触 ;在软件上 ,提出的双散射峰法和散射峰 -逃逸峰法 ,能够校正 0 - 10 mm厚的井液对