亚微压入仪及其应用

介绍新研制的“YY-Ⅰ型亚微压入仪”的结构,原理及应用。该仪器在计算机控制下可完成材料表面微米或亚微米级涂层、镀层,离子注入层等的硬度、硬度分布曲线、弹性模量及复合材料中纤维基体界面剪切力的测定等。

亚微压入仪研制中的几个问题

YY—1型亚微压人仪是我们开发成功的、用于研究材料表面亚微米级膜层力学性能的高灵敏度、高精度仪器。它主要由测试台及以微型计算机为核心的电气控制系统组合而成。本文主要介绍在其研制过程中遇到的诸多关键技术问题,如微力产生、微位移测量、振动及温度影响、压头与样品表面接触判定、数据采集等。

亚微压入法硬度测量

简要介绍新研制的亚微压入仪(Submicron Indentation Tester)及其主要应用之一;硬度测量.该设备通过测量压痕深度而获得硬度值.其力加载是连续的,能够连续记录载荷压痕深度曲线.其特点是不但可测量材料表面某点亚微层的硬度值,还可在此范围内测量其硬度随层深分布曲线.该设备力加载最大范围:0～200g,力分辨率:≤1mg;压入深度测量范围:0～60μm,分辨率:≤1nm.

亚微压入位移的标定

介绍了一种亚激压入位移标定的简易方法,该方法采用球形压头,在弹性变形范围内加载,通过对9组标准块规厚度差的测量,对亚微压入仪的电测位移值进行校正.实验精度为19nm,不确定度为7nm.其特点是检测方便,实验精度高,与光干涉法相当.