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题名一种带温度保护和曲率补偿的带隙电压基准结构
被引量:2
- 1
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作者
李凡阳
刘文平
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机构
西安微电子技术研究所
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2008年第3期74-76,80,共4页
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文摘
介绍了带隙电压基准的一种改进设计,该结构通过引入MOS管亚阈值区电流特性的曲率补偿和温度保护的特性,不仅使电路在规定温度范围内具有更低的温度系数(10ppm/℃),而且能保证在温度升高至超出此温度范围的时候,基准电路的温度保护部分将输出逻辑电平信号,以达到外部电路控制的目的.同时温度保护电路具有迟滞效应,避免电路在温度T时产生震荡效应.
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关键词
带隙电压基准
曲率补偿
温度保护
亚阚区
迟滞效应
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Keywords
band-gap voltage reference
curvature compensation
temperature protection
sub-threshold region
hysteresis
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分类号
TN4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于CMOS的低功耗基准电路的设计
被引量:6
- 2
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作者
童志强
邹雪城
童乔凌
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机构
华中科技大学电子科学与技术系
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2006年第4期80-82,共3页
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基金
国家自然科学基金项目(60572076)
江苏省高校自然科学研究计划(05JKB510113)
苏州大学大学生课外学术科研基金项目
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文摘
基于带隙基准的原理,采用0.6μm、N阱CMOS工艺,文章设计了一种工作在亚阈值区的用于锂离子和锂聚合物电池充电保护芯片的低功耗基准电路。Hspice仿真结果表明:基准电压为1.068V,电源电压由1.8V到8V变化,电路最大消耗电流小于0.15μA;温度由-40℃到80℃变化,其温度系数约为±10ppm/℃。整个充电保护芯片测试结果,其功耗小于0.6μW。
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关键词
亚阚值区
CMOS工艺
低功耗
带隙基准
温度系数
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Keywords
Subthreshold region, CMOS technology, Low-power consumption, Bandgap reference, Temperature coefficient
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分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名一种全MOS管结构低压低功耗电压基准源的设计
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作者
张昌璇
解光军
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机构
合肥工业大学微电子与固体电子学院
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出处
《现代电子技术》
2008年第1期156-158,共3页
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文摘
提出了一种全MOS管结构的低压低功耗电压基准源,他利用一个工作在亚阈值区的MOS管具有负温度特性的栅-源电压与一对工作在亚阈值区的MOS管所产生的具有正温度特性的电压差进行补偿。电路采用标准的0.6μmCMOS工艺设计,已成功应用于一个低压差线性稳压器(LDO)中,具有优良的温度稳定性,在-40^+120℃范围内能达到37.4 ppm/℃,并可以在供电电压为1.4~5.5 V下工作,其总电流仅为4μA。
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关键词
电压基准
亚阚值区
低压低功耗
MOS管
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Keywords
voltage reference
sub - threshold region
low - voltage low - power
MOS
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分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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