交流电晕老化对复合绝缘子体积电阻率-温度特性的影响

硅橡胶材料作为复合绝缘子外绝缘基材，其体积电阻率和温度之间存在一定关系，老化可能会对这一特性产生影响。为此以硅橡胶基材作为研究对象，对试样进行不同时间的交流电晕老化，并利用研制的体积电阻率测试系统进行不同温度下的体积电阻率测试。同时结合傅里叶红外光谱（FTIR）和X射线光电子能谱（XPS）分析，探究了交流电晕老化对复合绝缘子的体积电阻率-温度特性（1nρv-1/T）的影响，并以此定性评估试样受电晕老化程度。试验结果表明：随着交流电晕老化时间的增加，复合绝缘子材料的1nρv-1／T线性相关度逐渐降低，且低温区域范围内（293~313K）此种变化更为显著，所受电晕老化程度加深；交流电晕作用导致材料表层Si-O键小分子的大量生成，对内层也产生一定程度破坏，这些小分子影响了低温区段下材料的体积电阻率特性；随着温度的升高，高分子链段运动加剧且材料内部运动空间扩大使得高分子作用重新主导导电机理，线性关系恢复。

交直流电晕老化对脂环族环氧树脂性能的影响

长期暴露于电晕放电环境会引起环氧树脂表面腐蚀及结构破坏,导致憎水性降低、缝隙变形和表面氧化,为此提出采用针板电极试验装置对环氧树脂材料进行相同环境条件下的交直流电晕老化试验,利用扫描电镜、傅里叶变换红外光谱及X射线能谱分析研究环氧树脂材料憎水性和憎水恢复性。试验结果表明:随着交直流电晕老化时间的增加,环氧树脂试样的憎水性均遭到了破坏,但长时间的交流电晕老化后的试样憎水性不能完全恢复而直流电晕老化后的试样憎水性可以恢复;交流电晕老化对试样表面微观结构和内部官能团的破坏比直流电晕更严重;环氧树脂材料经过交直流老化后表面元素C、Al含量减少,Si、O含量增加。