Pb(Zr_xTi_(1-x))O_3成分梯度铁电薄膜的结构及性能

采用Sol-Gel方法,通过快速热处理,在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备出Pb(Zr,Ti)O3成分梯度薄膜。用俄歇微探针能谱仪(AES)对制备的上梯度薄膜进行了成分深度分析,证实其成分梯度的存在。XRD分析表明,制备的梯度薄膜为四方结构和三方结构的复合结构,但其晶面存在一定的结构畸变。介电温谱测试表明,随着温度的升高,梯度薄膜出现一个铁电-铁电相变点和两个居里点,同时出现一定的频率弥散现象。不同偏压下电滞回线的测试表明,梯度薄膜表现出良好的铁电性质。热释电性能测试表明,梯度薄膜的热释电系数随着温度的升高逐渐增加,并且其热释电系数比每个单元的热释电系数大。

Sb_2O_3掺杂Ba(Ti_(0.91)Zr_(0.09))O_3陶瓷的结构与性能

采用固相反应法制备了Sb2O3掺杂的Ba(Ti0.91Zr0.09)O3陶瓷,研究了Sb2O3掺杂量(x(Sb2O3)为0.5%～5.0%)对陶瓷晶相结构及介电性能的影响,分析了陶瓷电滞回线变化的原因。结果表明:Sb3+进入了Ba(Ti0.91Zr0.09)O3陶瓷晶格,引起晶格畸变,且无第二相出现。随着Sb2O3掺杂量的增加,陶瓷晶粒逐渐变小变均匀,tanδ减小。Sb2O3掺杂的Ba(Ti0.91Zr0.09)O3陶瓷为弥散相变铁电体,在x(Sb2O3)为3.0%处弥散程度最小。

基于LabVIEW的4284A-LCR测量系统开发

利用LabVIEW开发安捷伦4284A-LCR测量仪的多功能测量系统。采用Keithley-GPIB488转接线实现计算机USB端口与4284A-LCR测量仪GPIB端口的物理连接;LabVIEW中的VISA通讯函数配合4284A-LCR的指令集开发测量系统的各功能模块,实现计算机程序控制4284A-LCR测量仪。在集成4284A-LCR测量仪前面板测量功能的基础上,测量系统增加了快速设定频率范围、介电频谱测量、实时图形化显示数据以及测量数据存储等功能。结合加热装置和3146A万用表测温功能,该系统还能够实现介电温谱的测量。

基于LabVIEW的4284A-LCR测量系统的开发

利用LabVIEW开发了基于安捷伦4284A-LCR测量仪的多功能测量程序。采用Keithley-GPIB488转接线实现计算机USB端口与4284A-LCR测量仪GPIB端口的物理连接。利用LabVIEW中的VISA通讯函数配合4284A的指令集开发了测量程序中各个功能模块,实现计算机程序控制4284A-LCR测量仪。在集成4284A-LCR测量仪前面板测量功能的基础上,测量程序增加了快速设定频率范围、介电频谱测量、实时图形化显示数据以及测量数据存储等功能。结合加热装置和3146A万用表测温功能后,该系统还能够实现介电温谱的测量。