硅基低介质损耗树脂的合成及研究

为了改善双马来酰亚胺(BMI)树脂的韧性、溶解性,提高BMI树脂在高频高速覆铜板领域的应用性,本文采用有机硅与D936型BMI树脂合成了一种有机硅改性双马来酰亚胺树脂(Si-D936)。采用红外、核磁、凝胶渗透色谱对Si-D936的特征结构和硅基-D936单体进行了表征,同时探究了不同硅含量对Si-D936溶解性能、耐热性能、力学性能以及10 GHz下介电性能的影响。结果表明:与改性前的D936相比,Si-D936在丁酮中的溶解性能得到明显改善,质量溶解度最高能达到30%(室温),但随着Si含量的增加,Si-D936的分子量增大,溶解性能略有下降;Si-D936固化后具有良好的热学性能,但随着Si含量增加,耐热性能和残碳率逐渐下降;有机硅改性可改善D936树脂的力学性能,其中SiD936-1(D936与HMM的物质的量之比为3∶1)固化物的冲击强度和拉伸强度较D936分别提升了35%和24.6%,随着Si含量的进一步增加,改性树脂的交联程度受到影响,树脂的冲击强度、弯曲强度、拉伸强度下降;有机硅改性D936树脂后,改性树脂的介电性能得到改善,介质损耗因数从0.009 4减小到0.007 2(10 GHz)。

水冷发电机定子绕组介质损耗现场测试研究

从介质损耗诊断机理出发,结合水冷发电机定子绕组绝缘结构模型,通过水冷发电机介损现场测试案例,简要分析常规试验接线“反接法”的弊端,提出特殊试验接线“屏蔽法”的改进测试方案,并实际验证此方案的可行性。新方案能保障测试数据的准确性,且无需新增操作工序、检修工期,可为同类型的机组开展绝缘老化诊断工作提供一定参考。

变压器套管介质损耗因数超标原因分析

变压器套管作为从变压器内部高低压引线引出的出线装置,对变压器起着至关重要的作用,除应具有规定的电气和机械强度,还需要有良好的热稳定性。其故障形成原因也有很多,例如:制造工艺不良、末屏绝缘不良、长期运行密封垫圈老化等。本文从变压器套管故障原因分析出发,利用排除法与横纵向对比法,全面分析并得出了某变电站1号主变套管介质损耗因数超标形成原因,最后通过油化验试验加以验证。

用傅里叶变换测量介质损耗因数tan δ的软件同步算法

计算分析了当电网频率漂移时,通过传统的离散采样用快速傅里叶变换(FFT)计算电力设备的介质损耗因数tanδ时,由于硬件设计的采样周期不能随电网频率漂移而相应地改变,从而给tanδ测量结果带来严重的计算误差。提出了一种利用采样序列数据修正方法,这种方法通过检测信号的周期确定周期修正量,根据大于或小于0决定是增加或者减少采样周期来解决传统傅里叶计算方法的计算误差问题,文中阐述了算法的实现过程,并介绍了一种适用于实验室和现场的通过阻容变化改变相位角的简单而准确的模拟电路。计算机模拟和实测结果表明,文中提出的算法可很好地解决传统傅里叶方法测量tanδ的精度与稳定性不高的问题,在12位A/D精度、电网频率波动±0.2Hz条件下,数据经过修正计算后tanδ测量误差小于5×10-4,对提高tanδ测量精确度及稳定性有重要作用,可在目前广泛使用的微控制单元(MCU)中很好地实现。

数字式介质损耗因数tanδ检测仪的设计

介绍了一种利用基波相位分离法实现电气绝缘设备介质损耗因数(tanδ)数字化检测的方法,根据其原理设计了以DS80C320单片机构成的绝缘介质损耗检测仪,文中详细描述了其硬件组成和软件设计,给出了该仪器装置测量的实验结果。

空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析

空间干扰对现场试验中出现的电容式套管介质损耗因数tanδ可造成影响,使其偏小甚至出现负值。针对这一问题,笔者进行了分析研究,并提出了相应的建议:在现场进行电容性套管的介质损耗测量时,必须认真分析空间干扰网络的影响,以防止介质损耗因数的测量误差,保证测量结果的准确性。

电容性设备介质损耗角tanδ的监测技术研究

电容性设备的可靠性很大程度上决定于设备绝缘性能的高低,介质损耗角是反映电容性设备绝缘状况的首要参数。提出了一种针对电容性设备介质损耗角tanδ监测的设计方案,该方案采用三层分布式架构和主动查询、定时中断两种工作模式,使用DSP作为底层数据采集控制处理器以及CAN总线的通信模式,在分析tanδ的基础上,提出基于multiple sampling的自适应求解tanδ算法和聚类算法,建立了具有数据监测、分析和诊断、查询等功能的监测系统。经过实验证明,该方案具有较高的测量精度。

同步采样在电容套管介质损耗因数tanδ测量中的意义

指出测量变压器套管的介质损耗因数tanδ中非同步采样是引起测量误差的关键因素,分析了采样率、信号的谐波分量和采样初始相位在非同步采样时对测量结果的影响程度。

电流互感器高电压介质损耗因数tanδ的测量

文章对高电压下的互感器介质损耗因数测量能准确反映设备的绝缘状况进行分析,并通过实例验证高压介质损耗值能有效地判断绝缘体是否存在缺陷。因此得到现场开展tanδU曲线测试工作,对准确判断互感器绝缘状况有重要意义的结论。

平板介质的微波分裂腔法介电常数测试技术

为实现微波频段平板类介质材料的介电常数的无损测试,研究了分裂式圆柱形谐振腔测试方法。介绍了分裂式圆柱形谐振腔的电磁场分析理论,采用模式匹配技术实现了介质加载条件下腔内电磁场分布的精确求解,得到了腔体谐振频率与材料介电常数之间的准确关系。在理论分析的基础上,制作了空腔谐振频率为10 GHz的分裂式谐振腔,并与前期研制的闭式谐振腔进行对比测试,介电常数实部测量结果相对误差小于1%。与国外同类产品进行对比测试,介电常数实部结果基本一致,损耗角正切测量结果更接近于文献参考值。因此,微波分裂腔法能够实现平板介质板材的无损测量,具有准确度高,使用方便等突出优势,可在微波频段内实现介电常数为1~20,损耗角正切为1×10-3~1×10-5,板材厚度为0.1~2.0 mm的各类平板介质材料介电常数的准确测试。

快速陡脉冲重复电场下高频变压器绝缘介质损耗与冲击能量积聚特性

电力电子变压器中高频变压器须承受高频非正弦与高温的复杂应力。随着SiC等大功率半导体器件的使用,高频变压器中非正弦方波电压上升与下降沿出现陡脉冲应力,其dv/dt大于10 kV/μs,给高频变压器绝缘可靠性带来巨大挑战。高dv/dt包含大量高频谐波,从而导致绝缘介质损耗明显增加;高频、高dv/dt下绝缘遭受累积性冲击电应力,导致局部电场畸变,引发绝缘局部放电与损伤。该文围绕dv/dt对高频变压器绝缘介质损耗与冲击能量积聚的影响展开研究。采用阶跃响应函数模拟高dv/dt脉冲电压,结合绝缘介质损耗分解与计算,提出了dv/dt与方波电压叠加下绝缘介质损耗的计算方法。结果表明,绝缘介质损耗随dv/dt的增大而增加,绝缘热效应明显增加。根据绝缘在方波交变电场下能量储存和释放特性,分析了高dv/dt下绝缘能量积聚密度pd。采用有限元仿真分析10 kW、10 kHz、1000 V/750 V高频变压器绝缘电场、位移电流与冲击能量密度。结果发现,pd随着dv/dt增加而增大。结合介质损耗计算,研究指出在方波电压高dv/dt处(电压极性反转时),绝缘遭受累积电-热冲击应力,造成绝缘损伤。研究结果为大容量高频变压器绝缘失效与设计提供指导。

一种新型介质损耗tanδ测量系统研究

为了提高测量介质损耗和准确度,对介质损耗测量中存在的误差进行了研究,介绍过零点时差法测量介质损耗的原理。详细讨论了过零点测量时失调与温飘误差和电网波动误差的形成机理,针对过零点时差法测量tanδ时存在的主要误差——过零比较器的失调与温飘误差和电网波动产生的误差,设计了一种基于AT89C51单片机、采用双向过零平均鉴相技术和锁相技术的介质损耗tanδ测量系统,给出该测量系统的详细工作过程,得出了样机对试品的测量结果,对试品测量结果分析后证明该系统可有效消除过零点失调与温飘误差和电网波动误差的影响。

低介质损耗增韧剂的合成及应用研究

本文设计合成了一种新型低介质损耗增韧剂(Si-DABPA),并对其结构进行表征,研究了其对马来酰亚胺(DFE950)的增韧效果。结果表明:Si-DABPA和二烯丙基双酚A(DABPA)对DFE950具有相同的反应活性,与DFE950/DABPA固化物相比,DFE950/Si-DABPA固化物的耐热降解性提高,10 GHz下介电常数(Dk)和介质损耗因数(Df)有所降低。与DFE950/DABPA/PPE固化物相比,DFE950/Si-DABPA/PPE固化物的拉伸强度提高,而弯曲强度和冲击强度变化不大。

电磁式电流互感器介质损耗因素(tanδ)测试方法

通过对电磁式电流互感器采用正接线和反接线测量其tanδ的分析 ,阐明了正接线比反接线对判断电磁型电流互感器受潮较灵敏。

变压器套管介质损耗因数超标分析及监造经验反馈

套管是变压器的重要部件,必须具备足够的机械强度和规定的绝缘性能。文章阐述了一起变压器套管介质损耗因数超标的典型监造案例,详细分析了问题产生的原因,指出环境温度对介质损耗因数产生的影响,提出实际工作中应准确理解把握技术标准的重要性,技术协议的签订一定要严谨、细致、明确等,可为同类设备的监造及问题处理提供借鉴。

油浸式变压器绕组介质损耗因数与温度关系分析

温度和油浸式变压器绕组tanδ的关系与被试品的绝缘状况、绝缘结构和材料密切相关。通过对某水电厂油浸式变压器绕组tanδ的历史试验数据进行分析,结合其绕组tanδ随温度的变化以及绝缘结构、绝缘材料和绝缘状况等因素的相关性,综合分析绕组tanδ与温度关系特性及其可能与规程经验公式不符的原因。建议对于SFP-100000/220型油浸式变压器的绕组tanδ测量结果,在绝对值未超过规程规定值的情况下,不要进行温度换算后对比。相反,应采用与历次油温相近的试验数据进行对比,以尽量减少使用经验公式进行温度换算所带来的影响。

油纸电容式套管介质损耗因数tanδ

对油纸电容式套管介质损耗因数tanδ的测量方法及影响因素等进行了介绍。

影响油纸电容式套管介质损耗因数(tanδ)增大或不稳定因素的分析

主要介绍了油纸电容式套管生产中能够引起套管ｔａｎδ值增大或不稳定的主要原因及其解决办法。同时指出在套管生产中保持其ｔａｎδ值的正常水平不应造成能源的浪费和生产设备的疲劳， 以及处理套管的ｔａｎδ值不应超越绝缘材料的极限。

110kV带抽头电容式电压互感器介质损耗角正切tanδ测试误差原因分析

通过对现场1组110 kV带抽头电容式电压互感器(CVT)介质损耗角正切tanδ测试实例,基于正接线的测量方法,采用AI600E型自动介质损耗电桥,对带抽头CVT的C1、C2介质损耗角正切tanδ测试误差的原因进行分析,得出了由于CX接触不良使得标准臂的参数发生了变化,是引起测试误差的主要原因。

绝缘油介质损耗与体积电阻率测试仪空杯电容值的计算

绝缘油介质损耗与体积电阻率测试仪的试验油杯是仪器的重要组成部分,以空气为介质的油杯电容值影响仪器的测量准确度和校准结果。为了得到准确的油杯电容值,依据油杯几何结构,采用圆锥体电容与圆柱体电容并联分布的物理模型,推导获得理论计算公式,并进行建模仿真比较。结果表明,所述理论计算方法有较高准确度,可用于指导测试仪的设计和校准工作。