介质耗损因数tgδ的西林电桥测试法及其改进

介质损耗因数tgδ是反映高电压电气设备绝缘性能的一项重要指标,通过测试tgδ可以反映出绝缘的一系列缺陷.电力设备在运行过程中,要定期对tgδ进行测试,若达不到一定标准,将不能继续使用该电力设备.长期以来,tgδ的测量是通过西林电桥实现的,但它的测试程序复杂,操作量大,测试时间长,并易受人为因素的影响,这些都限制了西林电桥在电力系统中的应用.本文对西林电桥测试作了一定的改进,解决了测试时对绝缘和抗干扰能力的要求.