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p—InGaAlP/p—GaAs异质结构的电流—电压特性
1
作者
周华
《发光快报》
CSCD
1993年第6期36-39,共4页
关键词
异质结
伏-安特性
价带不连续性
下载PDF
职称材料
半导体与微电子技术
2
《电子科技文摘》
2000年第3期23-23,共1页
1999年 IEEE 国际微电子测试结构会议录(见0004512)氧浓度和衬底温度对透明导电 Cd<sub>2</sub>SnO<sub>4</sub>薄膜光学性质的影响(见0003782)HBT 中基区内建电场的物理机制及其理论分析(见0003773)InGa...
1999年 IEEE 国际微电子测试结构会议录(见0004512)氧浓度和衬底温度对透明导电 Cd<sub>2</sub>SnO<sub>4</sub>薄膜光学性质的影响(见0003782)HBT 中基区内建电场的物理机制及其理论分析(见0003773)InGaP/GaAs 异质结价带不连续性的直接测量(见0003577)
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关键词
微电子技术
半导体
薄膜光学性质
测试结构
衬底温度
透明导电
价带不连续性
会议录
内建电场
物理机制
原文传递
题名
p—InGaAlP/p—GaAs异质结构的电流—电压特性
1
作者
周华
出处
《发光快报》
CSCD
1993年第6期36-39,共4页
关键词
异质结
伏-安特性
价带不连续性
分类号
TN304.2 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
半导体与微电子技术
2
出处
《电子科技文摘》
2000年第3期23-23,共1页
文摘
1999年 IEEE 国际微电子测试结构会议录(见0004512)氧浓度和衬底温度对透明导电 Cd<sub>2</sub>SnO<sub>4</sub>薄膜光学性质的影响(见0003782)HBT 中基区内建电场的物理机制及其理论分析(见0003773)InGaP/GaAs 异质结价带不连续性的直接测量(见0003577)
关键词
微电子技术
半导体
薄膜光学性质
测试结构
衬底温度
透明导电
价带不连续性
会议录
内建电场
物理机制
分类号
TN [电子电信]
原文传递
题名
作者
出处
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1
p—InGaAlP/p—GaAs异质结构的电流—电压特性
周华
《发光快报》
CSCD
1993
0
下载PDF
职称材料
2
半导体与微电子技术
《电子科技文摘》
2000
0
原文传递
已选择
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参考文献
引证文献
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