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基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
被引量:
2
1
作者
赵步云
管杰
戴昌培
《电子工业专用设备》
2005年第8期37-42,共6页
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。
关键词
高速数模转换
器
芯片
任意波型产生器/模拟捕捉器
数模混合信号芯片测试
下载PDF
职称材料
题名
基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
被引量:
2
1
作者
赵步云
管杰
戴昌培
机构
北京半导体行业协会测试中心
出处
《电子工业专用设备》
2005年第8期37-42,共6页
文摘
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。
关键词
高速数模转换
器
芯片
任意波型产生器/模拟捕捉器
数模混合信号芯片测试
Keywords
High speed D/A converter
AWG/ACP
Testing of mixed signal chipset
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
赵步云
管杰
戴昌培
《电子工业专用设备》
2005
2
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