基于Nor型闪存的过擦除修复优化研究

为了提高过擦除修复的可靠性以及提高过擦除修复的效率,设计了一种基于Nor型闪存存储器的过擦除修复流程。本文首先介绍了过擦除现象的产生以及对Nor型闪存存储器正常工作的影响,并介绍了一种解决过擦除现象的常用方法,即软编程。随后对一种传统的擦除流程进行了研究,引入两种当下常用的过擦验证流程并对它们的过擦验证效率进行分析。在此基础上提出了一种新的过擦除验证流程,也就是后文提到的组合过擦除修复流程,该流程将非严重过擦除存储单元的擦除时间缩短,同时可对严重过擦除存储单元进行更精细的修复,从而达到提高过擦除修复的可靠性以及修复效率。最后实验表明该过擦除流程的优化结果良好,实用性很强。