基于优化权集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生成概率的测试矢量数 ,进而减小在高故障覆盖率下的测试长度 。