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WC-(Ni-Fe)伪二元系局部相图的测定 被引量:1
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作者 张丽英 吴庆华 吴成义 《北京科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期321-325,共5页
用光学显微镜、电子显微镜、图像仪、X 射线衍射相分析、热差分析等综合方法,研究了WC-(Ni-Fe)系合金,在 WC 含量(质量分数为6%~38%)范围内的伪二元系相图特征.同时研究了 WC 在 y 相中的最高溶解度和室温溶解度数据.结果表明,WC-(Ni-... 用光学显微镜、电子显微镜、图像仪、X 射线衍射相分析、热差分析等综合方法,研究了WC-(Ni-Fe)系合金,在 WC 含量(质量分数为6%~38%)范围内的伪二元系相图特征.同时研究了 WC 在 y 相中的最高溶解度和室温溶解度数据.结果表明,WC-(Ni-Fe)伪二元系相图仍属于典型的二元共晶型相图,y 相中的溶解度随温度而变化,共晶温度下最大溶解度(质量分数)为11.2%,室温时最大溶解度为9.01%. 展开更多
关键词 硬质合金 相图 二元合金 溶解度
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FP法在SDD-EDXRF无标样分析技术中的应用研究 被引量:3
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作者 刘敏 庹先国 +1 位作者 李哲 石睿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期1096-1099,1104,共5页
为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe... 为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe-Ti两种伪二元体系样品进行能谱测量,并采用自行开发的FP法计算程序,分析得到了混合样品中各元素含量,含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2%,精密度相对标准偏差低于0.8%。结果表明,所建立的FP法分析模型,能较好克服元素间的吸收增强效应,可应用于SDD-EDXRF的无标样分析过程。 展开更多
关键词 能量色散X荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系
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钛钒铁间吸收增强效应研究及其校正 被引量:7
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作者 庹先国 穆克亮 +3 位作者 李哲 王洪辉 罗辉 杨剑波 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第11期3158-3162,共5页
利用X射线荧光分析方法,采用电制冷Sic(PIN)探测器,对配制的Ti-V,Ti-Fe,V-Fe三种伪二元体系样品进行测量,得到了元素计数率归一系数(RK)与含量(WK)之间的关系曲线,对各组元素间的吸收-增强效应程度进行了定性分析。结果表明,Ti-V二元系... 利用X射线荧光分析方法,采用电制冷Sic(PIN)探测器,对配制的Ti-V,Ti-Fe,V-Fe三种伪二元体系样品进行测量,得到了元素计数率归一系数(RK)与含量(WK)之间的关系曲线,对各组元素间的吸收-增强效应程度进行了定性分析。结果表明,Ti-V二元系中所表现的吸收增强效应较明显,Ti-Fe,V-Fe两种二元系中吸收增强现象不明显。同时,采用指数拟合的数学校正方法,对RK-WK关系曲线进行了拟合,从而获得元素X射线荧光计数率与含量的函数方程。利用三组Ti-V二元系样品对此方法进行检验,与实际结果相比,对Ti,V元素的相对分析误差均在0.2%以内。 展开更多
关键词 XRF 吸收-增强效应 ()二元 指数拟合 校正方法
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