一种改进的侧向测井电极系探测深度表征方法

侧向测井电极系探测深度的传统定义方法是采用伪几何因子理论，这种基于纵向无限厚地层模型定义的侧向测井电极系的探测深度具有一定局限性，不能合理表现电极系的径向探测能力。通过对侧向测井电极系探测深度表征方法的分析，给出了一种改进的有限厚地层探测深度伪几何因子公式表征方法，利用有限元方法对双侧向测井和阵列侧向测井的探测深度进行计算分析，对电极系的径向探测特性进行综合描述。利用有限元数值模拟方法对5700双侧向测井仪器（1239）电极系、EILog高分辨率双侧向测井仪器（HRDL）电极系和EILog阵列侧向测井仪器（HAL）电极系的3种侧向测井仪器的响应曲线幅度进行对比，结果在6～8m以下厚度的地层中3种电极系探测深度接近。随地层厚度的不断加大，1239和HRDL探测深度趋向无限厚数值，HAL探测深度基本保持不变。3种电极系结构的实测曲线也说明了在6～8m厚度以下的地层，3种电极系的测量曲线幅度接近，与有限厚探测深度指标吻合，说明无限厚探测深度指标不能反映该厚度的实际特性。改进后的表征方法更合理。

阵列侧向测井仪器侵入影响分析

本文在研究阵列侧向测井仪器结构、测量原理和伪几何因子理论的基础上,对阵列侧向测井的侵入特性进行分析。在渗透层,阵列侧向电阻率曲线显示正差异。随着侵入半径的增大,电阻率曲线逐渐远离地层真电阻率,探测深度越浅的曲线受侵入影响越大,并根据这些特性制作了对应的侵入校正图版,对测井响应解释评价提供理论依据。