伪测量值法在电阻抗成像中的应用研究

本文提出的伪测量值法是利用EIT测量的有限离散数据相互间的位置关联信息,应用数据插值或曲线拟合等计算方法,求得边界更多位置的数据或连续分布的解析式。将计算数据作为测量值应用到图像重建中,相当于在不改变现有硬件电路和测量方法的情况下,增加了测量电极的数量,理论上可以提供足够的数据满足各种算法对数据量的要求,解决了因电极数量的限制导致的测量信息不足的问题,为解决在求解逆问题时因测量数据不足而导致的欠定问题提供了一个切实可行的方法,同时也为提高成像质量创造了条件。