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题名一种组合电路内建自测试的改进方法
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作者
朱敏
杨春玲
周文
庞亮
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机构
哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
吉油集团公司热电厂
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出处
《计算机测量与控制》
CSCD
2008年第12期1806-1808,共3页
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文摘
对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内建自测试的改进方法;分析与实验结果表明,该方法能减少系统硬件占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
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关键词
伪随机测试序列
内建自测试
D算法
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Keywords
Linear feedback shift register (LFSR)
Built--in self test (BIST)
D algorithm
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分类号
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名一种新型混合模式BIST的低功耗设计
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作者
赵明
陈卫兵
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机构
阜阳师范学院物理系
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出处
《电子质量》
2006年第5期1-3,共3页
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文摘
本文提出了一种基于折叠集的test-per-clock结构的混合模式BIST设计方案,并且进行了低功耗的整体优化设计。该设计方案在电路结构上利用双模式LFSR将两部分测试生成器有机的进行了结合,针对伪随机测试序列与折叠测试序列两部分采用了不同的措施来优化测试生成器的设计,从而达到降低被测电路功耗的目的。
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关键词
低功耗
BIST
测试生成器
双模式LFSR
伪随机测试序列
折叠测试序列
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Keywords
Low power
BIST
Test generator
Two-mode LFSR
Pseudo random test sequences
Folding test sequences
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名数字传输性能测量的数字图形
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作者
翁元举
罗建国
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出处
《电信网技术》
1996年第2期34-44,共11页
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文摘
论述了用于数字传输性能测量的数字图形。结合我国数字通信的PDH和SDH传输体制,推荐了各种比特率的标准测试序列及其成帧测试序列的要求。为了进行面向块的差错性能测量,推荐了在PDH和SDH系统上差错性能测量的块长。
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关键词
标准测试序列
伪随机测试序列
成帧测试序列
测试信号结构
块长
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分类号
TN915.06
[电子电信—通信与信息系统]
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