载频电子散斑位移场分离技术研究

提出了载波调制分离位移场的方法。在双光束电子散斑干涉(ESPI)中增加参考光,使这路参考光为两光束所共用。通过偏转物体引入载波调制条纹,具有条纹对比度高的优点。物体加载后,载波条纹受物体变形的调制而发生弯曲变形。实验时,两束光各自独立地对变形物体进行测量,采集物体变形前后的条纹,利用傅里叶变换法,可分别解调得到包含离面和面内位移信息的2幅位移图。理论分析表明,只需简单的位相运算,就能够将面内位移场与离面位移场分离。利用典型的周边固定、中心加载的圆盘实验,表明了该方法的可行性;周边固定、中心加载的圆盘变形所包含的面内位移大小与离面位移相比,大约低1个数量级。