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基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
被引量:
1
1
作者
李鹏
颜学龙
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2013年第10期144-148,152,共6页
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案.该方案先借助Atalanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量...
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案.该方案先借助Atalanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量的方法以及可配置线性反馈移位寄存器生成确定性测试向量的原理,获得低功耗测试矢量.通过对组合电路集ISCAS’85的实验,证实了这种测试生成方案的有效性.
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关键词
内建自
测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
下载PDF
职称材料
题名
基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
被引量:
1
1
作者
李鹏
颜学龙
机构
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2013年第10期144-148,152,共6页
文摘
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案.该方案先借助Atalanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量的方法以及可配置线性反馈移位寄存器生成确定性测试向量的原理,获得低功耗测试矢量.通过对组合电路集ISCAS’85的实验,证实了这种测试生成方案的有效性.
关键词
内建自
测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
Keywords
BIST
low power test vectors
fault coverage
configurable LFSR
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
李鹏
颜学龙
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2013
1
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职称材料
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