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低功耗CMOS工艺中NMOS管阈值电压偏移的研究
1
作者
袁庆洪
蒋志
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期175-177,共3页
研究了在 LPLV CMOS工艺中 ,用表面沟 PMOS管工艺使 NMOS管的阈值电压发生偏移的问题。在使用表面沟 PMOS管的 LPLV CMOS工艺中 ,NMOS管的多晶栅中的杂质不能达到均匀的分布 ,导致阈值电压发生偏移。文章提出了三个解决方案 。
关键词
低功耗cmos工艺
NMOS管
阈值电压偏移
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
低功耗CMOS工艺中NMOS管阈值电压偏移的研究
1
作者
袁庆洪
蒋志
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期175-177,共3页
文摘
研究了在 LPLV CMOS工艺中 ,用表面沟 PMOS管工艺使 NMOS管的阈值电压发生偏移的问题。在使用表面沟 PMOS管的 LPLV CMOS工艺中 ,NMOS管的多晶栅中的杂质不能达到均匀的分布 ,导致阈值电压发生偏移。文章提出了三个解决方案 。
关键词
低功耗cmos工艺
NMOS管
阈值电压偏移
集成电路
Keywords
Semiconductor process
Process simulation
Low power device
Threshold voltage shift
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
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1
低功耗CMOS工艺中NMOS管阈值电压偏移的研究
袁庆洪
蒋志
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002
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