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低功耗CMOS工艺中NMOS管阈值电压偏移的研究
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作者 袁庆洪 蒋志 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期175-177,共3页
研究了在 LPLV CMOS工艺中 ,用表面沟 PMOS管工艺使 NMOS管的阈值电压发生偏移的问题。在使用表面沟 PMOS管的 LPLV CMOS工艺中 ,NMOS管的多晶栅中的杂质不能达到均匀的分布 ,导致阈值电压发生偏移。文章提出了三个解决方案 。
关键词 低功耗cmos工艺 NMOS管 阈值电压偏移 集成电路
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