MLCC之绝缘低压失效机理

在长期低压直流电场作用下，含钛陶瓷ＭＬＣＣ之绝缘电阻会逐渐变小，介质损耗增加，直到超出容许极限而失效。通过微观导电机理分析，探明这主要是钛－氧八面体中氧缺位之迁移、空间电荷积累以及潮湿环境作用所致。

多层陶瓷电容器的低压失效及提高可靠性的措施

本文简述多层陶瓷电容器的低压失效机理,有关筛选方法、把有可能发生低压失效的电容器筛选掉,从而提高多层陶瓷电容器及整机的应用可靠性。

铅系多层陶瓷电容器（MLCCs）三层镀失效机理的研究

从电化学的角度，解释了铅系多层陶瓷电容器（ＭＬＣＣｓ）三层镀后低压失效的机理。通过ＳＥＭ、ＥＤＳ等分析手段，分析了三层镀过程中氢的析出对铅基陶瓷的还原作用。实验结果表明，电镀过程中析出的活性很高的氢原子能够很容易地穿透疏松结构的银端电极，并对陶瓷基体产生还原作用，导致陶瓷材料中出现金属态的铅，从而使陶瓷材料中参与导电的电子数目增多，降低陶瓷材料的绝缘性能，引起低压失效。