苹果图象的低层处理及尺寸检测

分析了苹果品质检测中的图象低层处理方法 ,并根据苹果的外形特征进行尺寸检测。利用白色背景下 ,图象的B分量灰度直方图进行图象与背景的分离 ,结合苹果表面光滑易反射的特点 ,用链符法搜索并细化轮廓 ,采用最小外接矩形法求横径、纵径 ;测量尺寸与实际尺寸的相关系数为 0 .955。

基于寄存器优化的图象中低层处理

提出了一种在高性能ＲＩＳＣ芯片上进行图象中低层处理的寄存器优化方法。使用该方法能使处理速度提高将近一倍，在ＴＭＳ３２０ｃ４０上所做的实验表明应用该方法能取得较好的效果。

板栗图像的低层处理及边缘检测

分析了板栗品质检测中的图像低层处理方法,并进行了边缘检测。利用白色背景下,图像的R分量灰度直方图进行图像与背景的分离,利用imcontour函数得到虫害板栗的边缘图像,为识别正常板栗与虫害板栗提供了基础。