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VG354质谱计离子源电离带低温测量设备及其应用
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作者 肖应凯 魏海珍 +2 位作者 王庆忠 张崇耿 孙爱德 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1272-1276,共5页
设计了一种用于VG 35 4型热电离质谱计电离带低温测量装置 (DWZZ)。它由热电偶温度计及连接件组装而成 ,能即时测定电离带的表面温度。测定的离子源中电离带的低温段温度与加热电流的关系可用关系式y =-ax3+bx2 -cx +d表示 ,温度测定的... 设计了一种用于VG 35 4型热电离质谱计电离带低温测量装置 (DWZZ)。它由热电偶温度计及连接件组装而成 ,能即时测定电离带的表面温度。测定的离子源中电离带的低温段温度与加热电流的关系可用关系式y =-ax3+bx2 -cx +d表示 ,温度测定的误差 <± 2℃。此装置已用于石墨非还原热离子发射特性和石墨存在下M2 BO+2 、M2 X+ 展开更多
关键词 VG354质谱计 离子源 电离带 低温测量设备 应用 热离子发射 温度测量
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