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国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证 被引量:1
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作者 路大勇 程崴 金文仁 《现代科学仪器》 2014年第1期153-157,共5页
采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3(BL9T)单相陶瓷。该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证。考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱... 采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3(BL9T)单相陶瓷。该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证。考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱技术综合确定的砭最高为-62℃,以确保BL9T在%以上始终处于立方结构。以BL9T的单胞体积(圪)与温度的线性膨胀关系为依据,验证了在低于室温进行粉末×RD测量时变温样品室具有较高的温度准确性。在-30℃到-60℃温度范围内,变温样品室内热电偶的监控温度(瓦)与陶瓷粉末样品表面的实际温度(t)的偏差非常小(〈2℃)。 展开更多
关键词 X射线衍射仪 变温样品室 钛酸镧钡陶瓷 低温粉末xrd测量 介电温度特性 变温拉曼光谱
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