基于光谱光纤低相干的透射样品色散和折射率测量方法

提出了一种利用光纤式低相干技术测量光学介质折射率和群延迟色散的方法。该方法中,在系统参考臂使用步进电机扫描,干涉光信号经过光谱仪后由CCD探测,利用样品上下表面的光谱干涉信号计算相位差值,然后利用多项式拟合求出群延迟色散。其优点是系统中由于光纤而引起的参考臂与样品臂之间的色散不匹配不会影响测量结果。色散测量精度可以达到±0.2747×10-14 fs2/mm。在样品臂中放入反射镜,可以测量系统色散不匹配值,该数值能够用于系统色散的定量补偿。与传统的根据半峰全宽的变化来评定色散补偿结果的方法相比,定量补偿可以提高补偿精度和减小重复计算半峰全宽的工作量,定量补偿的精度为±0.019×10-12 fs2。