单层晶金属极薄带的制备及其尺寸效应

对低碳钢极薄带进行热处理后发现,在成品厚度为25μm以下时,其厚度方向只有一层晶粒。这种单层晶的晶界面积在晶粒总表面积中的占比很小,导致其组织性能与常规材料不同。为了研究单层晶极薄带的尺寸效应,进行单轴拉伸实验。结果表明,对于厚度方向只有少数晶粒的极薄带而言,抗拉强度和伸长率均随厚度/晶粒尺寸(T/D)比值的减小而降低。分析主要原因是晶粒自由表面比例大,位错容易从晶界表面逃逸,导致产生上述尺寸效应。