关于特征X射线在γ谱仪低能效率刻度应用中偏差问题的初步探讨

分析了在用天然放射性232Th衰变系的低能X射线进行HPGeγ谱仪的效率刻度时出现系统偏差的原因,并就此对实际应用中应注意的问题进行了探讨。提出了特征X射线的符合相加等效应在低活度γ谱分析中可能会引起的一系列问题以及应采取的措施。