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低能量X-RAY测厚仪与β-RAY测厚仪在薄膜生产中的应用比较
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作者 刘伟 《电力电容器》 2001年第3期36-38,共3页
分析比较了低能量 X- RAY和β- RAY两种测厚仪在薄膜生产测量中的差别。指出低能量 X- RAY测厚仪将逐渐替代 β- RAY测厚仪 ,成为今后薄膜厚度测量的主流机型。
关键词 薄膜生产 低能量x-ray测厚仪 β-RAY测厚仪 应用
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