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脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂
被引量:
2
1
作者
李志成
刘路
+2 位作者
吴昕
贺连龙
徐永波
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期503-506,共4页
利用低载荷Vickers压痕的方法在GaAs单晶中诱发微裂纹,通过透射电子显微镜和高分辨电子显微镜对裂纹尖端进行了观察.结果表明,裂纹尖端前沿诱发了位错;沿着裂纹扩展方向出现了晶格扭曲,进而产生局部的无序化结构;无序...
利用低载荷Vickers压痕的方法在GaAs单晶中诱发微裂纹,通过透射电子显微镜和高分辨电子显微镜对裂纹尖端进行了观察.结果表明,裂纹尖端前沿诱发了位错;沿着裂纹扩展方向出现了晶格扭曲,进而产生局部的无序化结构;无序化结构的扩大与连接形成具有1-2nm宽度的非晶窄带.裂纹在非晶窄带中萌生,并沿着非晶带扩展.弯曲的裂纹表面和具有一定宽度的裂纹尖端说明,裂纹的扩展并不是沿着某特定的原子面原子键脱开,而是在非晶窄带中由结合键较弱的原子之间的断键并相互连接的结果.
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关键词
GAAS单晶
低载荷压痕
裂纹尖端与裂纹扩展
电子显微技术
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职称材料
题名
脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂
被引量:
2
1
作者
李志成
刘路
吴昕
贺连龙
徐永波
机构
中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室
Department of Mechanical and Engineering
中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室
出处
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期503-506,共4页
基金
国家自然科学基金NO.59971059
国家重点基础研究项目G19990650的资助
文摘
利用低载荷Vickers压痕的方法在GaAs单晶中诱发微裂纹,通过透射电子显微镜和高分辨电子显微镜对裂纹尖端进行了观察.结果表明,裂纹尖端前沿诱发了位错;沿着裂纹扩展方向出现了晶格扭曲,进而产生局部的无序化结构;无序化结构的扩大与连接形成具有1-2nm宽度的非晶窄带.裂纹在非晶窄带中萌生,并沿着非晶带扩展.弯曲的裂纹表面和具有一定宽度的裂纹尖端说明,裂纹的扩展并不是沿着某特定的原子面原子键脱开,而是在非晶窄带中由结合键较弱的原子之间的断键并相互连接的结果.
关键词
GAAS单晶
低载荷压痕
裂纹尖端与裂纹扩展
电子显微技术
Keywords
GaAs single crystal
low-load indentation
structure at crack-tip and propagation of crack
electron microscopy
分类号
TG111.91 [金属学及工艺—物理冶金]
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂
李志成
刘路
吴昕
贺连龙
徐永波
《金属学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
2
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职称材料
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