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基于低速面阵CCD的正弦相位调制干涉测量 被引量:1
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作者 何国田 王向朝 唐锋 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期265-271,共7页
正弦相位调制(SPM)干涉测量技术用于表面形貌测量时,需要帧速高于300frame/s的图像传感器,同时要求调制信号频率与图像传感器帧速成确定的整数倍关系。提出一种基于低速CCD(30frame/s)的帧速可调的高速图像传感技术,通过控制... 正弦相位调制(SPM)干涉测量技术用于表面形貌测量时,需要帧速高于300frame/s的图像传感器,同时要求调制信号频率与图像传感器帧速成确定的整数倍关系。提出一种基于低速CCD(30frame/s)的帧速可调的高速图像传感技术,通过控制每帧像素总数提高CCD帧速,研制出一种高帧速图像传感器,帧速可达300~1600frame/s,且每帧大小连续可调。将该CCD传感器用于正弦相位调制干涉泰曼一格林干涉仪,测量镀膜玻璃板表面形貌,当CCD图像传感器的帧速与调制信号频率呈16,8,4倍的关系时,得到玻璃板表面形貌的轮廓平均算术偏差Ra小于1.8nm,重复精度优于3nm。 展开更多
关键词 测量 干涉 正弦相位调制 低速ccd表面形貌检测
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