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低频低噪声测量放大器的设计 被引量:11
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作者 陈晓娟 樊欣欣 吴洁 《现代电子技术》 北大核心 2016年第10期116-119,共4页
低频噪声是表征半导体器件质量和可靠性的一个重要敏感参数,为了能够测量电子器件低频噪声,使用分立器件SSM-2220组成偏置电路,由ADA4898-1构成前置放大器,采用噪声匹配变压器法设计一种测量低频低噪声的放大器。实验结果表明:在频率为8... 低频噪声是表征半导体器件质量和可靠性的一个重要敏感参数,为了能够测量电子器件低频噪声,使用分立器件SSM-2220组成偏置电路,由ADA4898-1构成前置放大器,采用噪声匹配变压器法设计一种测量低频低噪声的放大器。实验结果表明:在频率为80 k Hz以下,放大器输入端共模抑制比高出集成运放OP-37 228 d B,其系统的噪声系数低于前置放大器ADA-40752 0.3 d B,满足低频低噪测量放大器的设计要求。 展开更多
关键词 分立元件 前置放大器 噪声匹配变压器 低频噪声测量
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基于虚拟仪器的OCDs低频噪声参数测试系统设计
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作者 刘薇薇 《吉林大学学报(工学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期262-264,共3页
利用虚拟仪器技术和LabVIEW软件中提供的Levenberg-Marquardt算法,设计了一种半导体低频噪声参数自动测量系统.在功能上可以替代原由传统测试系统,完成OCDs器件的噪声互功率谱测量.同时可进行低频噪声谱参数拟合.该系统可为改进OCDs器... 利用虚拟仪器技术和LabVIEW软件中提供的Levenberg-Marquardt算法,设计了一种半导体低频噪声参数自动测量系统.在功能上可以替代原由传统测试系统,完成OCDs器件的噪声互功率谱测量.同时可进行低频噪声谱参数拟合.该系统可为改进OCDs器件生产工艺,提高产品质量和可靠性提供理论依据. 展开更多
关键词 虚拟仪器 低频噪声参数测量 可靠性 光电耦合器件
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