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电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究
被引量:
4
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作者
王署光
《电子测试》
2016年第9期134-135,共2页
载流子微观运动会导致电器元器件出现低频电噪声,噪声的大小能够直接反应电子元器件的生产质量及可靠性。电子元器件生产厂家以及各地的研究所都对低频电噪声的测试技术十分关注。下文主要对电子元器件低频点噪声测试技术及其应用进行...
载流子微观运动会导致电器元器件出现低频电噪声,噪声的大小能够直接反应电子元器件的生产质量及可靠性。电子元器件生产厂家以及各地的研究所都对低频电噪声的测试技术十分关注。下文主要对电子元器件低频点噪声测试技术及其应用进行简单的探讨。
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关键词
低频电噪声测试
偏置技术
低频
噪声
放大技术
数据采集技术
噪声
数据处理
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职称材料
题名
电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究
被引量:
4
1
作者
王署光
机构
河南省洛阳经济学校
出处
《电子测试》
2016年第9期134-135,共2页
文摘
载流子微观运动会导致电器元器件出现低频电噪声,噪声的大小能够直接反应电子元器件的生产质量及可靠性。电子元器件生产厂家以及各地的研究所都对低频电噪声的测试技术十分关注。下文主要对电子元器件低频点噪声测试技术及其应用进行简单的探讨。
关键词
低频电噪声测试
偏置技术
低频
噪声
放大技术
数据采集技术
噪声
数据处理
Keywords
low frequency electrical noise test
bias technique
low frequency noise amplification technology
data acquisition technology
noise data processing
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
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1
电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究
王署光
《电子测试》
2016
4
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