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新一代高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板材料 被引量:1
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作者 曾宪平 《覆铜板资讯》 2008年第6期26-31,共6页
随着PCB的发展,对CCL的要求越来越高,主要表现为耐热性,可靠性,特别在高多层板中的密集BGA孔的爆孔,厚铜多层以及HDI应用中发生的爆板问题,这些问题在无铅化时代表现的更为严重。本文研究了一种高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板及... 随着PCB的发展,对CCL的要求越来越高,主要表现为耐热性,可靠性,特别在高多层板中的密集BGA孔的爆孔,厚铜多层以及HDI应用中发生的爆板问题,这些问题在无铅化时代表现的更为严重。本文研究了一种高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板及粘结片材料,该材料的特点为Tg(DMA)>220℃,Td(5%loss)>355℃,Z轴热膨胀系数α1:50.2μm/m℃,α2:170.6μm/m,另外,材料在高温(200℃)下的模量保持率为普通高Tg材料的3倍。通过材料的优化设计,达到性能的平衡。 展开更多
关键词 耐热性 改性树脂 模量 低cte
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新一代高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板材料 被引量:1
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作者 曾宪平 《印制电路信息》 2009年第2期22-25,共4页
随着PCB的发展,对CCL的要求越来越高,主要表现为耐热性和可靠性,特别在高多层板中的密集BGA孔的爆孔、厚铜多层以及HDI应用中发生的爆板问题,这些问题在无铅化时代表现的更为严重。文章研究了一种高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板... 随着PCB的发展,对CCL的要求越来越高,主要表现为耐热性和可靠性,特别在高多层板中的密集BGA孔的爆孔、厚铜多层以及HDI应用中发生的爆板问题,这些问题在无铅化时代表现的更为严重。文章研究了一种高耐热性、高模量、低CTE覆铜箔层压板及粘结片材料,该材料的特点为Tg(DMA)>220℃,Td(5% loss)>355℃,Z轴热膨胀系数α1∶50.2μm/m℃,α2∶170.6μm/m。另外,材料在高温(200℃)下的模量保持率为普通高Tg材料的3倍。通过材料的优化设计,达到性能的平衡。 展开更多
关键词 耐热性 改性树脂 模量 低cte
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无铅化焊接的高频基板材料
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作者 林金堵 《印制电路信息》 2008年第12期29-33,共5页
文章概述了无铅化焊接对高频基板材料的要求。无铅化焊接的实质是提高基板材料的耐热性问题。PCB的耐热的要求主要是基板材料的热分解温度和热膨胀系数方面。
关键词 无铅化焊接 高性能CCL 高Tα的FR-4 耐热性能 低cte 可靠性试验
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含芳杂环结构的聚酰亚胺/SiO2杂化薄膜及性能研究 被引量:1
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作者 游茜 《上海化工》 CAS 2020年第3期10-14,共5页
以均苯四甲酸二酐(PMDA)为二酐单体,对苯二胺(p-PDA)、2-(4-氨基苯基)-5-氨基苯并噁唑(BOA)和2-(4-氨基苯基)-5-氨基苯并咪唑(BIA)为二胺单体,制备了聚酰亚胺(PI)树脂和薄膜,又采用三辊机制备了PI/SiO2杂化树脂和薄膜。利用傅里叶红外... 以均苯四甲酸二酐(PMDA)为二酐单体,对苯二胺(p-PDA)、2-(4-氨基苯基)-5-氨基苯并噁唑(BOA)和2-(4-氨基苯基)-5-氨基苯并咪唑(BIA)为二胺单体,制备了聚酰亚胺(PI)树脂和薄膜,又采用三辊机制备了PI/SiO2杂化树脂和薄膜。利用傅里叶红外光谱对材料的结构进行了表征,结果表明薄膜完全亚胺化,且SiO2存在于PI基体中。此外,还研究了PI和PI/SiO2杂化薄膜的热学性能和力学性能。随着2种不同粒径SiO2的加入,PI/SiO2杂化薄膜的耐热性能得到明显改善。与纯PI相比,PI/SiO2杂化薄膜的玻璃化转变温度上升3~16℃,1%热失重温度提高了14~30℃,而且线性热膨胀得到抑制,PI-R106-5的线性热膨胀系数(CTE)仅为2.59×10-6/℃。但是,PI/SiO2杂化薄膜的力学性能相对于纯PI薄膜有所降低,未来应继续提高其相容性。 展开更多
关键词 聚酰亚胺 二氧化硅 杂化薄膜 高耐热 低cte
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