Eu^(3+)摩尔浓度对Y_2O_2S:Eu^(3+),Mg^(2+),Ti^(4+)红色长余辉材料光谱的影响

用高温固相法制备了Y2 O2 S :Eu3 + ,Mg2 + ,Ti4+ 红色长余辉材料。测量了该材料的余辉曲线 ,余辉时间为 1h以上 ;由X射线衍射得到晶体结构为Y2 O2 S。测量了不同Eu3 + 摩尔浓度下的激发光谱和发射光谱 ,得到从5DJ(J =0 ,1,2 ,3) 7FJ(J=0 ,1,2 ,3,4 ,5 )的发射谱线 ,并得到位于 2 6 0 ,345 ,4 6 8和 5 4 0nm激发峰。由于激活剂饱和效应 ,Y2 O2 S :Eu3 + ,Mg2 + ,Ti4+ 发射光谱中 5 13 6 ,5 4 0 1,5 5 6 4 ,5 87 3和5 89 3nm属于从5D2 ,5D1到7FJ(J =0 ,1,2 ,3,4 )跃迁的发射峰随Eu3 + 摩尔浓度的增加相对削弱 ;激发谱包括位于 35 0nm左右属于电荷转移态吸收 (Eu3 + —O2 -,Eu3 + —S2 -)的激发主峰和在可见光区位于 4 6 8,5 2 0和 5 4 0nm属于Eu3 + 离子 4 f 4 f吸收的激发峰。随着Eu3 + 摩尔浓度的增加 ,位于 4 6 8,5 2 0和 5 4 0nm的激发峰相对增强。

不同基质和稀土含量对SrAl_2O_4:Eu^(2+),Dy^(3+)材料余辉特性的影响

用高温固相法在还原气氛中制备了SrAl2 O4 :Eu2 + ,Dy3+ 长余辉发光材料 ,测得了其晶体结构、激发光谱和发射光谱 .在所知的最佳激发条件下 ,给材料以一定的辐照剂量后 ,测得了不同基质浓度、不同稀土掺杂浓度时的热释光谱 ,并计算了相应的陷阱能级深度 .结合不同样品的余辉衰减曲线和热释光曲线进行分析 ,发现Dy3+ 掺入量的变化对材料的余辉性能影响很大 ,而作为基质的铝离子 ,其浓度在一定范围内的变化对材料的余辉性能影响不大 .这与Matsuzawa等人所提出的该材料的余辉机理模型相符 .

红色长余辉材料CaTiO_3:Pr^(3+)中两种电子陷阱的研究

用高温固相法制得了钙钛矿结构的红色长余辉材料CaTiO3:Pr3+。其发射光谱峰值为612.3nm和614.7nm,激发光谱的峰值为342nm和400nm;在温度110～400K内有4个热释峰,峰值温度基本在153K、242K、279K和327K附近。在不同掺杂下热释光曲线的变化表明,153K和242K的热释峰分别对应于O空位和Ti4+形成的电子陷阱。从不同样品的热释光曲线和余辉曲线变化情况可看到,这两种电子陷阱是影响材料余辉性能的主要因素。Zn2+的掺入改变了陷阱的分布状况,提高了材料的余辉性能。